扫描探针显微镜
原⼦⼒显微镜(AFM)是观测纳⽶材料的常⽤⼿段之⼀。主要⽤于获取材料表⾯纳⽶尺度三维形貌和电、磁、声、光、热等物化特征。⽬前是分辨率最⾼的显微镜,可达原⼦级分辨率。
产品优势:
•国内迄今唯⼀原⼦⼒显微镜具有⽂献可溯源的原⼦级分辨率⼚家
•⽤⼾累计发表论⽂数千篇
•具有探针-样品体系的密闭系统
•全⾃动步进电机控制进样,⽆需⼿动粗调
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