原子力显微镜探针

一、定义与概述

原子力显微镜（AFM）是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。AFM探针作为其核心部件，通过针尖与样品表面原子间的微弱作用力来作为反馈信号，维持针尖与样品间作用力恒定，并在样品表面进行扫描，从而获取样品表面的高低起伏信息。

二、应用模式

AFM探针的应用模式多种多样，其中最常见的包括接触模式和轻敲模式，多型号可选，可定制探针。